手 機： 13554779951 張先生
地 址： 中國廣東省深圳市羅湖區深南東路金豐城大廈B座1502－1503
FC系列射線、超聲探傷專用計算儀,將現代計算技術與傳統的探傷技術相結合，使該系列計算儀成為探傷工作的實用工具，現場生產的得力助手，受到探傷工作者的歡迎。
一、 FC系列計算儀產品介紹：
眾所周知，射線、超聲探傷中，不少探傷工藝參數、探傷結果以及 ? 射線拍片的曝光時間等，都需要經過大量復雜的數學公式運算才能求得，初中級探傷人員要在生產現場計算這些參數或結果，是一件很不容易的事情。針對這一問題開發了FC系列射線、超聲探傷專用計算儀(共四個型號)。它使用高級的可編程計算儀，把復雜的計算公式內存于儀器之中，使用時只要根據儀器的提問，向儀器輸入實際的探傷參數，儀器就能計算出相關的結果。這樣能在生產現場準確迅速地計算探傷工藝參數和探傷結果，從而保證了探傷工作質量，提高了生產效率，并實現了數學運算的數字化和計算機化。
此系列計算儀的計算結果數字顯示、準確可靠、攜帶容易、方便實用、性能價格比高。
二、 射線超聲探傷專用計算儀型號及計算功能 ：
? FC－I A型超聲探傷專用計算儀：
(1)、具有計算實心鍛件探傷利用工件大平底確定探傷靈敏度應增益的dB數以及發現缺陷后計算缺
陷平底孔當量值的計算功能；并具有計算空心筒形鍛件外園徑向、內壁徑向探傷利用工件內外
曲底面確定探傷靈敏度應增益的dB數以及發現缺陷后計算缺陷平底孔當量值的計算功能。
(2)、具有平板對接焊縫、筒體環縫、筒體縱縫一、二次波法探傷對缺陷水平（弧長）和深度定位的
計算功能。
(3)、具有對不等厚焊縫探傷時，超聲探傷面在不等厚焊縫削薄斜面上一、二次波法探傷對缺陷水平
和深度定位的計算功能。
? FC－II A型射線探傷專用計算儀：
(1)、具有計算射源至工件表面最小距離L1 min的計算功能。
(2)、具有計算工件焊縫最少曝光次數N、一次曝光透照長度L3、底片有效評定長度Leff三個探傷工
藝參數的功能 (透照方式包括縱縫、環縫、封頭拼接焊縫單壁單影外照法；環縫雙壁單影、雙
壁雙影外照法以及環縫單壁單影偏心內照法。計算時透照厚度比K值選擇為：縱縫、封頭拼接
焊縫，K=1.03; 環縫，K=1.1, 滿足國家探傷標準中照相質量等級AB級的要求)。
(3)、具有計算 ? 射線Ir192透照曝光時間的功能。
? FC－II B型射線探傷專用計算儀：
除具有FC－II A型的全部計算功能之外, 計算時還可以自行輸入不同照相質量等級 (A級、AB
級、B級) 的K值，更適合不同照相質量等級對N、L3、 Leff三個參數的計算要求。
? FC-III型 Ir192 (銥192)、Co60 (鈷60)、Se75 (硒75)曝光時間計算儀：
(1)、具有計算 ? 射線Ir192透照曝光時間的功能。
(2)、具有計算 ? 射線Co60透照曝光時間的功能。
(3)、具有計算 ? 射線Se75透照曝光時間的功能。
三、 計算內容：
? FC－I A型超聲探傷專用計算儀計算內容： (見下表)
序號 |
探 傷 工 件 |
計 算 功 能 |
需輸入參數 |
輸 入 參 數 說 明: |
F1 |
實 心 鍛 件 |
大平底法增益dB數 |
T. A. F |
D：工件外徑 (mm) T：工件厚度 (mm) A：探傷起始靈敏度 (mm) F：探傷頻率 (MHZ) B：缺陷高于基準波dB數 H：缺陷深度 (mm) |
F2 |
空心鍛件、外探 |
曲底面法增益dB數 |
D.T. A. F |
|
F3 |
空心鍛件、內探 |
同 上 |
D.T. A. F |
|
F4 |
以 上 鍛 件 |
缺陷平底孔當量 |
B.A.H.T |
|
平、環焊縫 |
探頭K最小值 |
A.B. L.T |
A：焊縫上表面寬度 (mm) B：焊縫下表面寬度 (mm) L：探頭前沿距離 (mm) T：工件厚度 (mm) D：工件外徑 (mm) T：工件厚度 (mm) L：缺陷水平距離 (mm) H：缺陷深度 (mm) K：探頭K值 S：一次波探傷筒體內壁反 射波深度 (mm) |
|
F6 |
平、環焊縫 缺 陷 定位 |
水平定位(一次波) |
H. K |
|
F7 |
深度定位(一次波) |
L. K |
||
水平定位(二次波) |
H. K |
|||
F9 |
深度定位(二次波) |
T. L. K |
||
F10 |
筒 體 縱 縫 外 探 |
探頭K最大值 |
D.T |
|
F11 |
內壁反射波深度 |
D.T. K |
||
F12 |
筒 體 縱 縫 外 探 缺 陷 定 位 |
弧長定位(一次波) |
D. H. K |
|
F13 |
深度定位(一次波) |
D. H. K |
||
F14 |
弧長定位(二次波) |
D.T. K.S.H |
||
F15 |
深度定位(二次波) |
D.T. K.S.H |
||
F16 |
探傷面在不等厚 焊縫削薄斜面上 對缺陷定位 |
水平定位(一次波) |
H. K. A |
A：斜面與上表面夾角(銳角) L：入射點至焊趾距離 (mm) K：探頭K值 H：缺陷深度 (mm) T：不等厚焊縫薄板厚度 (mm) |
F17 |
深度定位(一次波) |
L. H. K. A |
||
F18 |
水平定位(二次波) |
H .K. A |
||
F19 |
深度定位(二次波) |
T.L.H.K.A |
序號 |
透 照 方 式 |
計 算 功 能 |
需輸入參數 |
參 數 說 明 (單位:mm) |
F1 |
計算L１最小值 |
L1 min (mm) |
D. T. G |
D: 射源焦點尺寸 T:工件厚度 G: 焊縫總余高 |
F2 |
縱縫、單壁單影 |
L3 (mm) |
L1 |
D：工件外徑 T：工件厚度 L1：射源至工件表 面距離 N：環縫最少曝光 次數 L3：一次透照長度 Leff：底片有效評定 長度 F：焦距 (射源至膠 片距離） R：工件外半徑 Y：雙壁雙影透照、 射源偏離焊縫 邊緣的距離 G：焊縫總余高 B：焊縫寬度 H：封頭直邊高度 S：即封頭小曲率 半徑部位的L3 |
F3 |
同 上 |
Leff (mm) |
L1.T. G |
|
F4 |
環縫外照、單壁單影 |
N (次) |
D.T. L1 |
|
F5 |
同 上 |
L3 (mm) |
D.T. N |
|
F6 |
同 上 |
Leff (mm) |
D.T. N |
|
F7 |
環縫外照、雙壁單影 |
N (次) |
D.T. F |
|
F8 |
同 上 |
Leff (L3) (mm) |
D.T. N |
|
F9 |
環縫外照、雙壁雙影 |
N (次) |
D. T |
|
F10 |
同 上 |
Leff (mm) |
D. N |
|
F11 |
同 上 |
偏移距離Y (mm） |
F. D. G. B |
|
F12 |
環縫內照 (F＞R) |
N (次) |
D. L1. T |
|
F13 |
同 上 |
Leff (L3) (mm) |
D.T. N |
|
F14 |
環縫內照 (F＜R) |
N (次) |
D. L1. T |
|
F15 |
同 上 |
L3 (mm) |
D.T. N |
|
F16 |
同 上 |
Leff (mm) |
D. L1. T. N |
|
F17 |
封頭拼縫、單壁外照 |
小曲率半徑部位L3 |
D. T. L1 |
|
F18 |
同 上 |
小曲率半徑部位N |
||
F19 |
同 上 |
大曲率半徑部位L3 |
||
F20 |
同 上 |
大曲率半徑部位N |
D. H. S |
|
F21 |
Ir192 (D＜20mm) |
Ir192曝光時間 （時、分、秒） |
E. F. D. T. A |
詳見使用說明書 |
F22 |
Ir192 (D≥20mm) |
E. F. D. T. A |
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